低對比度細節(jié)模體

低對比度細節(jié)檢測模體包含多達405個可以產(chǎn)生微小對比變化的孔，可以同時量 化細節(jié)和對比度，適用于整體放射診斷影像系統(tǒng)，例如CR/DR*，透視*和 造影*。更多詳細信息請您咨詢廊坊玉雙儀器設備有限公司，歡迎前來咨詢。模體定制生產(chǎn)銷售編號：20230117-06。

1、放置在探測器上面,應用合適條件進行曝光。

2、模體上含有15行和15列方形區(qū)分布225個方格組成的矩陣,每個方格中前三行僅有1個檢查點(成像點),其他行有2個檢測點，1個在方格中央,另1個隨*分布在1個角落中,共計405個地對比度孔。

3、檢查點的光密度比之均勻背景光密度高,檢測點深度和直徑呈對數(shù)變化,直徑范圍:0.3--8.0mm ,深度范圍: 0.3-8.0mm (精度: 0.01mm )

曲線結果以圖形的形式來表示。橫軸為小孔深度，縱軸為小孔直徑。穿過閾值區(qū)域的曲線稱為對比度細節(jié)曲線。為了比較不同系統(tǒng)的成像性能，需要在相同條件下獲取模體圖像，由相同的診斷醫(yī)生在相同時間內(nèi)進行評估。較好的成像系統(tǒng)所產(chǎn)生的圖像能夠顯示更小的細節(jié)和對比。這時繪制出的CD曲線將更靠近圖像的左下方。如有需求或其他相關產(chǎn)品和更多詳細信息請您咨詢：廊坊玉雙儀器設備有限公司。低對比度細節(jié)模體